相控阵快速校准测试系统
“一种阵列天线的诊断方法、设备、系统 ”提出了基于物理模型的场源重构方法，可在辐射近场的局部区域通过远少于直接测量法的采样点重构出辐射源的特性，并由源的特性计算得到远场方向图。与现有的方法相比，专利实现了测试数据需求更少、测量效率更高、易于工程实现等优点。这项创新成果可将多波位1个月测试时间缩减到2天并准确定位相控阵单元的问题，对研发和产线上阵列天线诊断有着重要意义。
该专利产品已经应用到通用测试相控阵快速校准测试系统RayVerse®系列，如RayVerse®2700/3700和RayVerse®10KP。
（一）RayVerse®2700/3700
该方案利用紧缩场解决相控阵校准速度问题，利用球面近场解决测试精度、远波位测试问题。再结合相控阵多波位测试方法，极大地提高测试效率，彻底解决相控阵校准测试各环节的问题。
1、微秒级时序控制，校准效率 较传统方法提升10倍；
2、扫描范围广，交叉极化高；
3、测试精度高、测试功能全面；
4、测试速度快，单点采样时间仅需1~2ms；
5、多频点、多通道、多波位快速测试；
6、国际顶尖水平的宽角度低交叉极化波纹喇叭探头；
7、安装便捷，无需精确对准。
（二）RayVerse®10KP
该方案满足S波段到W波段的大型相控阵天线阵面的快速校准及测试。
1、4m大口径毫米波天线测试系统，单位校准、阵列测试一体化；
2、高精度扫描机械系统满足110GHz以下频段的测试要求；
3、采用多探头连续触发技术提高测试速度；
4、被测的有源相控阵水平放置、安装方便；
5、具有机械形变自动检测功能，长期监测测试系统硬件的稳定性；
6、采用创新的平面近场扫描方法进行相控阵天线单元校准。
以科技创新引领行业发展
相控阵快速校准测试系统应用领域：
1、毫米波卫星
2、相控阵天线
3、毫米波雷达
4、毫米波基站
5、终端
6、芯片测量
相控阵快速校准测试系统具备分钟级幅相校准、多波位快速测试和任意角度的高精度测试等核心特点，并结合紧缩场系统和球面近场系统微秒级时序控制的优势，弥补了平面近场系统扫描范围窄、交叉极化差的缺陷，实现了任意类型相控阵天线的高精度测试。以相控阵快速校准测试系统为基础，创造性地提出了多波位快速测试解决方案，彻底解决了相控阵的校准和测试速度、精度的问题。